Mardi 30 janvier 2018

Séminaire à 10h15 en GI042 (GI - Bâtiment Blaise Pascal), présenté par Jonathan DEKHTIAR, doctorant au laboratoire Roberval de l’UTC.
"Deep Generative Models and AutoEncoders to robustly detect abnormal situation – Application to manufacturing defects detection."



Actualités
Vidéothèque
Téléchargements
Annuaire



FR SHIC 3272

Collegium UTC/CNRS